EMV/EMI-Magnetfeldsonde für leitungsgebundene und geführte Strahlungsprüfung, SMA-Buchse

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Entdecken Sie unsere Nahfeldsonde – ein unverzichtbares Diagnosewerkzeug für jeden Elektronikingenieur und -techniker. Die Sonde basiert auf einer hochwertigen, doppelseitigen Leiterplatte und zeichnet sich durch ihre Robustheit und zuverlässige Leistung aus.

Die Leiterplatte ist 1,6 mm dick und besteht aus 1,5 oz Kupfer. Dank der vollständigen Verzinnung gewährleistet sie eine hervorragende Leitfähigkeit und optimale Stromflussleistung, sowohl bei hohen als auch bei niedrigen Strömen. Diese hochwertige Konstruktion ermöglicht es der Sonde, potenzielle Störquellen in elektronischen Bauteilen präzise zu lokalisieren und zu identifizieren.

Sie eignet sich ideal für Messungen, die Phasenrauschen und Spektralkomponenten kombinieren, insbesondere in Verbindung mit einem rauscharmen Vorverstärker.

Die Anschlussschnittstelle ist ein robuster und weit verbreiteter SMA-Buchsenstandard, der einfache Verbindungen ermöglicht, die Fehlersuche und -behebung vereinfacht und eine hohe Langlebigkeit gewährleistet. Ihre Bestellung enthält eine sofort einsatzbereite Nahfeldsonde für Ihre anspruchsvollsten Elektronikanalysen und Fehlersuche.