Stück EMI/EMV-Magnetfeldsonde mit SMA-Buchse für geführte Strahlungsmessungen

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Entdecken Sie unsere Nahfeldsonde – ein unverzichtbares Werkzeug zur Diagnose und Analyse elektromagnetischer Störungen. Die Sonde basiert auf einer hochwertigen, doppelseitigen Leiterplatte mit einer Dicke von 1,6 mm (0,1 Zoll) und einer 1,5-Unzen-Kupferbeschichtung. Dieses robuste Herstellungsverfahren gewährleistet hervorragende Langlebigkeit und zuverlässige elektrische Leistung.

Die Leiterbahnen der Platine sind vollständig verzinnt, was eine ausgezeichnete Leitfähigkeit und optimale Durchsatzleistung sowohl bei hohen als auch bei niedrigen Strömen garantiert. Diese Beschichtung verbessert zudem die Oxidationsbeständigkeit.

Dieses Werkzeug eignet sich perfekt zur präzisen Lokalisierung und Identifizierung potenzieller Störquellen in elektronischen Baugruppen.

Durch die Kombination von Phasenrauschen- und Spektralkomponentenanalyse mit einem rauscharmen Vorverstärker ermöglicht es empfindliche und detaillierte Messungen von Störaussendungen. Die Sonde ist mit einer robusten SMA-Buchse ausgestattet, die widerstandsfähig gegen häufige mechanische Beschädigungen ist. Dieser standardmäßige und zuverlässige Stecker erleichtert die Verbindungen und vereinfacht die Fehlersuche und Störungsbehebung. Sie erhalten einen Satz von zwei identischen Nahfeldsonden, die sofort für Ihre EMV-Prüf- und Konformitätsprojekte einsatzbereit sind.